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Schlagwort = Gitterbaufehler und Sammlung = ULB Düsseldorf
Spektroskopische Ellipsometrie an III/V-Halbleiterstrukturen
Iber, Hartmut
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1996
Strahleninduzierte Defektbildung in nanokristallinen Materialien
Rose, Michael
Als Ms. gedr., Düsseldorf : VDI-Verl., 1997